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FM-Nanoview 1000 AFM

    详细说明

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    主要功能特点

    1、  扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;

    2、  精密激光及探针定位装置,更换探针及调节光斑简单方便;

    3、  采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;

    4、  马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;

    5、  高精度样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;

    6、  带光学定位的CCD观测系统,实时观测与定位探针样品扫描区域;

    7、  模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;

    8、  集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用;

    9、  弹簧悬挂式防震方式,简单实用,抗干扰能力强。

    主要技术指标

    1、工作模式:接触模式、轻敲模式,可选配摩擦力、相位、磁力或静电力

    2、样品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm

    3、扫描范围:XY向20um,Z向2um

    4、扫描分辨率:XY向0.2nm,Z向0.05nm

    5、样品移动范围:±6.5mm

    6、马达趋近脉冲宽度:10±2ms

    7、图像采样点:256×256,512×512

    8、光学放大倍数4X,光学分辨率2.5um

    9、扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360°

    10、扫描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A

    11、数据采样:14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样

    12、反馈方式:DSP数字反馈

    13、反馈采样速率:64.0KHz

    14、计算机接口:USB2.0

    15、运行环境:运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统

     

    友好的软件界面和操作功能

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    1. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;

    2. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;

    3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;

    4. 可任意选择样品起始扫描角度;

    5. 激光光斑检测系统的实时调整功能;

    6. 针尖共振峰自动和手动搜索功能;

    7. 可任意定义扫描图像的色板功能;

    8. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;

    9. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;

     

    FSM-AFM操作软件主要功能特点

    1、可实时观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像;

    2、具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式;

    3、可自由选择图像采样点为256×256或512×512;

    4、多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;

    5、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;

    6、可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;

    7、可任意选择样品起始扫描角度;

    8、激光光斑检测系统的实时调整功能;

    9、针尖共振峰自动和手动搜索功能;

    10、可任意定义扫描图像的色板功能;

    11、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;

    12、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;

    13、支持样品图片离线分析与处理功能。

    原子力显微镜广泛的应用

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