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FM-Nanoview 6800 AFM

    详细说明

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    主要功能特点

    硬件系统

    1、光机电一体化设计,外形结构简单;

    2、扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;

    3、精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;

    4、采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;

    5、伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;

    6、高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;

    7、高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;

    8、带光学定位的CCD观测系统,实时观测与定位探针扫描样品区域;

    9、采用伺服马达控制CCD自动对焦功能;

    10、模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;

    11、集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。


    主要技术指标

    1、工作模式:接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力

    2、样品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm

    3、最大扫描范围:横向50um,纵向5um

    4、扫描分辨率:横向0.2nm,纵向0.05nm

    5、扫描速率:0.6Hz~4.34Hz

    6、扫描角度:任意

    7、样品移动范围:0~20mm

    8、马达趋近脉冲宽度:10±2ms

    9、光学放大倍数:10X

    10、光学分辨率:1um

    11、图像采样点:256×256,512×512

    12、扫描控制:XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A

    13、数据采样:14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样

    14、反馈方式:DSP数字反馈

    15、反馈采样速率:64.0KHz

    16、计算机接口:USB2.0

    17、运行环境:运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统

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    1. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;

    2. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;

    3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;

    4. 可任意选择样品起始扫描角度;

    5. 激光光斑检测系统的实时调整功能;

    6. 针尖共振峰自动和手动搜索功能;

    7. 可任意定义扫描图像的色板功能;

    8. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;

    9. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;

    软件系统

    1、可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像;

    2、具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式;

    3、可自由选择图像采样点为256×256或512×512;

    4、多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图;

    5、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS(f-RMS)、RMS-间隙(RMS-Z)测量功能;

    6、可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域;

    7、可任意选择样品起始扫描角度;

    8、激光光斑检测系统的实时调整功能;

    9、针尖共振峰自动和手动搜索功能;

    10、可任意定义扫描图像的色板功能;

    11、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能;

    12、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正;

    13、支持样品图片离线分析与处理功能。

    原子力显微镜广泛的应用

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    1. 光机电一体化设计,外形结构简单;

    2. 扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;

    3. 精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;

    4. 采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;

    5. 伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;

    6. 高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;

    7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;

    8. 自由变倍的CCD观测系统,实时观测与定位探针扫描样品区域;

    9. 采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大;

    10. 模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;

    11. 集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。

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